半導體推力測試儀是微電子和電子制造領域的重要儀器設備，主要是用于微電子封裝和PCBA電子組裝制造及其失效分析領域的專用動態測試儀器。金線是一種貴重金屬材料，試樣很小，力量很小，并且測試精度要求很高，因此拉力測試機機臺要求很高，測試過程中不能有半點漂移，否則就會直接影響到測試結果。該設備廣泛應用于現代中、大功率變換器中的主流半導體開關器件，其動態特性決定裝置的開關損耗、功率密度、器件應力以及電磁兼容性，直接影響變換器的性能。因此準確測量功率開關元件的動態性能具有極其重要的實際意義。
該設備在測試精度、重復性、可靠性、操控性和外觀設計等方面，均達到高的水平。具有如下特點：
1、測試傳感器模塊大的優化了測試模塊適應各種不同類型的測試環境的能力，確保同一測試模塊工作在不同主機上測試數據的可靠一致性；
2、設備所有測試傳感器均采用自動量程設計，全量程范圍一致的分辨率(16BitPlus超高分辨率)，客戶在測試前無需在軟件端做繁雜而且耗時的檔位設定；
3、確保精準可靠的測試狀態和精密快速的定位動作；
4、自主研發制造的高頻響、高精度動態傳感器；
5、堅固機身設計，機身測試負荷能力高達500KG；
6、優異的設備操控性能，多方位保護措施，可自由擺放的左右搖桿控制器，操作手感舒適的搖桿控制器。
適用領域：
半導體推力測試儀測試迅速、準確、適用面廣、測試精度高，適用于半導體IC封裝測試、LED封裝測試、光電子器件封裝測試、PCBA電子組裝測試、汽車電子、航空航天、軍工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析以及各類院校教學和研究領域。
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